測試服務

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Test Services
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EBIC/EBAC

測試服務

全部分類

EBIC/EBAC

  • 分類：測試服務
  • 發布時間：2022-05-18 16:14:06
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概要:
概要:
詳情

　　1、項目定義：

 

　　NanoProbe集成EBAC/EBIC/EBIRCH等多功能失效分析能力，可實現芯片線路開路/短路定位；晶體管pn節成像/漏電定位。


　　2、應用優勢：

 

　　特別適合新產品的開發與失效分析，用于提高良率，解決質量和可靠性問題、客訴。

 

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