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飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS

分類：測試服務
發布時間：2022-05-18 16:47:53
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概要:

詳情

　　1、項目介紹：

　　飛行時間二次離子質譜技術（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質量，具有極高分辨率的測量技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素、分子等結構信息，其特點在二次離子來自表面單個原子層分子層（1nm以內），僅帶出表面的化學信息，具有分析區域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點，廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。勝科納米主要提供飛行時間二次離子質譜深度分析、表面（正或負離子）分析。玻璃樣品以面板樣品為主。

　　2、應用優勢：

　　硼磷砷1E5 at/cm3、碳氫氧1E16 at/cm3，Si標樣，電子中和槍解決charing，可滿足參雜含量分析、工藝雜質分析需求。

　　（1）當產品表面存在微小的異物，而常規的成分測試方法無法準確對異物進行定性定量分析，可選擇TOF-SIMS進行分析，TOF-SIMS能分析≥10μm直徑的異物成分。

　　（2）當產品表面膜層太薄，無法使用常規測試進行成分分析，可選擇TOF-SIMS進行分析，利用TOF-SIMS可定性分析膜層的成分。

　　（3）當產品表面出現異物，但是未能確定異物的種類，利用TOF-SIMS成分分析，不僅可以分析出異物所含元素，還可以分析出異物的分子式，包括有機物分子式。

　　（4）當膜層與基材截面出現分層等問題，但是未能觀察到明顯的異物痕跡，可使用TOF-SIMS分析表面痕量物質成分，以確定截面是否存在外來污染，檢出限高達ppm級別。

　　3. 飛行時間二次離子質譜分析（TOF-SIMS）注意事項

　　（1）樣品最大規格尺寸為1×1×0.5cm，當樣品尺寸過大需切割取樣。

　　（2）取樣的時候避免手和取樣工具接觸到需要測試的位置，取下樣品后使用真空包裝或其他能隔離外界環境的包裝，避免外來污染影響分析結果。

　　（3）TOF-SIMS測試的樣品不受導電性的限制，絕緣的樣品也可以測試。

　　（4）TOF-SIMS元素分析范圍H-U，包含有機無機材料的元素及分子態，檢出限ppm級別。

　　4、應用案例：