
測試服務
全部分類
-
開封Decap
-
去層Delayer
-
高分辨率顯微鏡X-Ray
-
時域反射儀TDR
-
增強型熱成像Thermal
-
雙束聚焦離子束FIB
-
等離子聚焦離子束PFIB
-
微光顯微鏡EMMI
-
激光故障定位法OBIRCH
-
納米探針Nano Probe
-
EBIC/EBAC
-
上機觀察SAT/C-SAM
-
透射電子顯微鏡TEM
-
能量色散X射線光譜儀EDX
-
原力電子顯微鏡AFM
-
芯片線路修改/FIB CKT 線路修補 (低階)、(高階)
-
飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS
-
磁質譜儀D-SIMS
-
俄歇電子能譜AES
-
X射線光電子能譜(XPS)
-
傅里葉變換紅外光譜儀FTIR
-
原子力顯微鏡AFM
-
靜電ESD
-
打線WireBond
-
擴展電阻測試SRP
-
溫度循環實驗TC
-
溫度沖擊試驗TS
-
高溫壽命試驗HTOL
-
高加速壽命測試HAST
-
器件DPA
-
植球Balling
俄歇電子能譜AES
- 分類:測試服務
- 發布時間:2022-05-18 16:51:31
- 訪問量:0
概要:
詳情
1、項目介紹:
俄歇電子能譜儀利用荷能電子束激發樣品表面原子產生的俄歇電子,來對樣品表面元素進行鑒別與定量分析。同 時,在檢測原子序數較小的元素時,該儀器具有高靈敏度,且有極佳的空間分辨率,常用于樣品表面的微區分 析。借助于離子束的剝蝕,俄歇電子能譜儀還能實現量化的深度剖析,并廣泛應用于薄膜各層及界面的分析。
2、應用優勢:
(1)基體效應小,易于定量;
(2)成像分辨率高,~10nm
3、局限:
(1)化學態信息有限
(2)分析絕緣體較困難
(3)無法檢測H及He
(4)樣品須滿足超高真空條件
掃二維碼用手機看