電性分析
- 分類：解決方案
- 發布時間：2022-05-18 17:47:32
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概要:
詳情
為了滿足各種半導體器件的需要，必需對材料的電學參數進行測量，這些參數一般為電 阻率、載流子濃度、導電類型、遷移率、壽命及載流子濃度分布等。
一、ESD/EOS 靜電測試
ESD測試用于驗證產品是否能夠承受靜電放電(ESD)事件和其他威脅，確保集成電路芯片和其他電子產品符合國家、國際和行業ESD和電磁兼容性(EMC)測試標準，可以提供全套的HBM/MM/Latch-Up/CDM/TLP測試。
二、電學測試和故障分析能力和應用 (EFA)
封裝級和器件級的失效定位分析 （Package/device-level Fault Isolation）
PCB 失效分析 Failure Analysis
電測量分析 Electrical Testing
ESD/EOS Testing lab
2D/3DX-射線分析NDT 2D/3D X-ray CT
射頻器件，LED激光器，光電器件，CMOS器件等各類半導體器件
三、主要設備
Nanoprobe
EMMI / OBIRCH
Thermal
2D XRAY
3D CT -XRAY
SAT (SAM)
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